美国LEE涂层测厚仪美国LEE L170/L180/L200/L360

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美国LEE涂层测厚仪美国LEE L170/L180/L200/L360

  产品名称: 美国LEE涂层测厚仪

  产品型号:美国LEE L170/L180/L200/L360

  产品展商: 北京时代辰天科技有限公司

  简单介绍

  美国LEE涂层测厚仪美国LEE 涂镀层测厚仪采用了世界先进的技术,是一种超小型测量仪,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、锌、锡、珐琅、橡胶、塑料、油漆等)可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量;该仪器坚固耐用、用途广泛,可单手操作。

  美国LEE涂层测厚仪的详细介绍

  美国LEE涂层测厚仪

  LEE Instruments 160/170+/180/200/360涂层测厚仪

  美国LEE Instruments公司设计制造

  L180/L200

  1. 只需调零、无需校准;

  2. Fe/NFe两用探头;

  3. 一体化设计;

  4. 自动关机;

  5. 用户校验标准过程。

  L160

  1. 只需调零、无需校准;

  2. NFe探头;

  3. 一体化设计;

  4. 自动关机;

  5. 用户校验标准过程。

  L360/L170+

  1. 只需调零、无需校准;

  2. Fe大量程探头;

  3. 一体化设计;

  4. 自动关机;

  5. 用户校验标准过程。

  Lee Instruments技术参数


型号
L170+
L200
L160
L180
L360
基体
Fe
Fe/NFe
NFe
Fe/NFe
Fe
显示
LCD显示
测量范围
0 — 1250um
0 — 1250um
0 — 200um
0 — 1250um
0 — 6000um
测量精度
(±3%H+1um)
显示精度
1um
工作温度
-10 — +60ºC
温度补偿
0 — +50ºC
最小基体
10mm×10mm
最小曲率
凸半径:5mm;凹半径:25mm。
最薄基体
Fe:0.2mm;NFe:0.05mm。
电源
7号电池4节
重量
82g(不含电池)
尺寸
112 ×69×28mm