涂层测厚仪MINITEST720/730/740
涂层测厚仪MINITEST720/730/740
产品名称: 涂层测厚仪MINITEST720/730/740
产品型号: MINITEST720/730/740
产品展商: 北京时代辰天科技有限公司
产品介绍
MINITEST720/730/740涂层测厚仪创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性 测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用 FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
MINITEST720/730/740涂层测厚仪的详细介绍
MINITEST720/730/740涂层测厚仪
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界顶尖技术生产。
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界顶尖技术生产。
SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项尖端的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项尖端的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
为什么选择SIDSP？
SIDSP探头具有极高的抗干扰性
任何与测量相关的信号，都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰，因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电，并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。
SIDSP探头具有极高的抗干扰性
任何与测量相关的信号，都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰，因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电，并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题，加长的电缆线同样具有极强的抗干扰能力。
SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的优秀性能。
EPK的SIDSP探头具有极高的重现性。将探头放在同一测量点测量几次，每次您都可以得到基本一样的结果，再次证明了SIDSP探头的优秀性能。
高精确度的SIDSP探头特征曲线
在生产过程中，EPK的SIDSP探头要经过严格的校准。一般的模拟探头只会在特征曲线上选几个点来校准，但SIDSP探头不同：由于是全自动化过程，探头在50个点上进行校准，大大降低了特征曲线的偏离。因此特征曲线在整个量程范围内都十分精准，将测量错误降至最低。
SIDSP探头对温度变化不敏感
在生产过程中，对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码，这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量，与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生！
在生产过程中，对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码，这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量，与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生！
SIDSP探头适应性强
需要快速测量几个点吗？只要开启快速测量模式，探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗？没问题，只要选择高精度模式，仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量，SIDSP都能完成您的选择！
需要快速测量几个点吗？只要开启快速测量模式，探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗？没问题，只要选择高精度模式，仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量，SIDSP都能完成您的选择！
SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿由于使用了EPK特殊的自动补偿方法，SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料，如铜，钛，等等，无需特别在基体上校准仪器。
SIDSP-未来解决方案EPK将继续改进SIDSP技术以满足客户的需求。您可以从EPK的网站进行免费的软件升级，使您的SIDSP探头总是最新版本。
MINITEST 700系列及SIDSP
新的MINITEST 700产品线，加强了EPK在全球涂层测厚市场的领导地位.
新的MINITEST 700产品线，加强了EPK在全球涂层测厚市场的领导地位.
有了新的SIDSP F型探头（测量铁基体）和N型探头（测量非铁基体），您可享受到高精确度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您所有涂层厚度问题，而产品优质的外观是您长期价值和成功的关键，比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑，或电镀等行业。
增加了测量速度设置选项MINITEST 700可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下，您可以短时间测量大量数值；也可以只测量少数几个数值，但要求精度很高，您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时，仪器会报警，保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警，在极限范围内用绿色LED灯表示，超过极限值则用红色LED灯提示。
使用简单方便MINITEST 700按照人体工学设计，外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性，MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头，方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求：如果您想单手测量，可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏，显示内容可以180度旋转，方便您读取数据。
预设选项节省您的时间和金钱
所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时，整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和金钱，仪器预设了大量校准方法，适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准，零点校准，2点校准和3点校准。另外，还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应全球销售需要，MINITEST 700满足各种国际标准：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亚（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
MINITEST 700优点一览：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加精确
-可更换探头使用更加灵活（MINITEST 740探头可由内置换为外置）
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
标准配置： 推荐配件:
带塑料手提箱，内含： -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
-MINITEST 720(内置探头)
--或MINITEST 730（外置探头）
--或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池
技术数据表
SIDSP探头
SIDSP探头
探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
精确度 | ±（1μm+0.75%读值） | ±（1.5μm+0.75%读值） | ±（5μm+0.75%读值） | |||
重复性 | ±（0.5μm+0.5%读值） | ±（0.8μm+0.5%读值） | ±（2.5μm+0.5%读值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
最小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
最小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
最小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
最小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
最小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
单值模式下最大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||
主机
型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | 最多10,000个 | 最多10,000个 | 最多100,000个 |
统计值 | 读值个数，最小值，最大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
校准程序符合国际标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）/230g（外置） |
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